* 平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
* 平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、_平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。

平面平晶的技術參數(shù):