平面平晶,光學(xué)平晶,平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。光學(xué)平晶廠家現(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎來電訂購(gòu)。

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