平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),平行平晶,光學(xué)平晶,平晶利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
平面平晶,平行平晶,平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。平面平晶廠家選擇滄州市三豐量具。
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